Approach to Some Behaviors of Zener-Diode-Based Voltage Standards: Fid-Bau Portal

Approach to Some Behaviors of Zener-Diode-Based Voltage Standards

Liu, L. X. / Sim, T. Y. / Tan, V. K. S. / Chua, S. W. / National Conference on Standards Laboratories

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Titel:

Approach to Some Behaviors of Zener-Diode-Based Voltage Standards

Beteiligte:

Liu, L. X. (Autor:in) / Sim, T. Y. (Autor:in) / Tan, V. K. S. (Autor:in) / Chua, S. W. (Autor:in) / National Conference on Standards Laboratories

Kongress:

Workshop and symposium, National Conference on Standards Laboratories ; 1996 ; Monterey; CA

Erschienen in:

National Conference on Standards Laboratories ; 489-498

WORKSHOP AND SYMPOSIUM- NATIONAL CONFERENCE ON STANDARDS LABORATORIES ; 1

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

10 pages

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

NCSL , standards laboratories , metrology

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