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Benchmarking Metrology (Panel/Workshop)

Keith, J. W. / National Conference on Standards Laboratories

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Titel:

Benchmarking Metrology (Panel/Workshop)

Beteiligte:

Keith, J. W. (Autor:in) / National Conference on Standards Laboratories

Kongress:

Workshop and symposium, National Conference on Standards Laboratories ; 1996 ; Monterey; CA

Erschienen in:

National Conference on Standards Laboratories ; 829-830

WORKSHOP AND SYMPOSIUM- NATIONAL CONFERENCE ON STANDARDS LABORATORIES ; 2

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

2 pages

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

NCSL , standards laboratories , metrology

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