Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Chemical imaging with scanning near-field infrared microscopy and spectroscopy [4098-15]

    Neue Suche nach: Michaels, C. A.
    Neue Suche nach: Richter, L. J.
    Neue Suche nach: Cavanagh, R. R.
    Neue Suche nach: Stranick, S. J.
    Neue Suche nach: Andrews, D. L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Chemical imaging with scanning near-field infrared microscopy and spectroscopy [4098-15]

    Neue Suche nach: Michaels, C. A.
    Neue Suche nach: Richter, L. J.
    Neue Suche nach: Cavanagh, R. R.
    Neue Suche nach: Stranick, S. J.
    Neue Suche nach: Andrews, D. L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Chemical imaging with scanning near-field infrared microscopy and spectroscopy [4098-15]

    Neue Suche nach: Michaels, C. A.
    Neue Suche nach: Richter, L. J.
    Neue Suche nach: Cavanagh, R. R.
    Neue Suche nach: Stranick, S. J.
    Neue Suche nach: Andrews, D. L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Chemical imaging with scanning near-field infrared microscopy and spectroscopy [4098-15]

    Beteiligte:

    Michaels, C. A. (Autor:in) / Richter, L. J. (Autor:in) / Cavanagh, R. R. (Autor:in) / Stranick, S. J. (Autor:in) / Andrews, D. L. / SPIE - International Society for Optical Engineering

    Kongress:

    Conference, Optical devices and diagnostics in materials science ; 2000 ; San Diego, CA

    Erschienen in:

    Optical devices and diagnostics in materials science ; 102-109

    PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING ; 4098

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISBN:

    0819437433

    ISSN:

    0277-786X

    Medientyp:

    Aufsatz (Konferenz)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    optical devices , SPIE , materials science , optical engineering

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Potential challenges in near-field scanning optical microscopy for space applications [4098-03]

    Vikram, C. S. / Witherow, W. K. / SPIE - International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2000

    Assessment of sensitivity advances in near-field Raman spectroscopy [4098-40]

    Michaels, C. A. / Dentinger, C. E. J. / Richter, L. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

    Raman spectroscopy in nanopolyacetylene [4098-29]

    Kobryanskii, V. M. / Paraschuk, D. Y. / Shchegolikhin, A. N. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

    Scanning near-field optical microscope: systems designs, performance specifications, and standardization schemes [4098-17]

    Lim, T.-K. / SPIE - International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2000

    Sharpened carbon nanotube probes [4098-11]

    Moloni, K. / Lal, A. / Lagally, M. G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

    Nach oben