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CIPP - Minimizing Risk by Defect Coding

Lee, R. K. / North American Society for Trenchless Technology

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Titel:

CIPP - Minimizing Risk by Defect Coding

Beteiligte:

Lee, R. K. (Autor:in) / North American Society for Trenchless Technology

Kongress:

No-dig conference and show ; 2007 ; San Diego, CA

Erschienen in:

No-dig conference and show ; A-1-04

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

A-1-04

Anmerkungen:

HELD ON CD-ROM

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Trenchless technology , No dig

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