Refractive Index of BAs~1~-~xP~x Semiconductors: Fid-Bau Portal

Refractive Index of BAs~1~-~xP~x Semiconductors

Vyas, P.S. / Gajjar, P.N. / Jani, A.R.

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Titel:

Refractive Index of BAs~1~-~xP~x Semiconductors

Beteiligte:

Vyas, P.S. (Autor:in) / Gajjar, P.N. (Autor:in) / Jani, A.R. (Autor:in) / Joshi, Utpal S.

Kongress:

National symposium, Advances in materials science and technology; (AMST ; 2013 ; Ahmedabad, India

Erschienen in:

Advances in materials science and technology; (AMST ; 225-228

DIFFISION AND DEFECT DATA ; 209

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

4 pages

Anmerkungen:

Includes bibliographical references and index.

ISBN:

9783037858974 , 3037858974

ISSN:

1012-0394

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Materials science , Materials technology , AMST

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