Defect induced intermixing in thin Si/Ge superlattices: Fid-Bau Portal

Defect induced intermixing in thin Si/Ge superlattices

Dettmer, K. / Kessler, F. R. / Freiman, W. / Beserman, R.

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Titel:

Defect induced intermixing in thin Si/Ge superlattices

Beteiligte:

Dettmer, K. (Autor:in) / Kessler, F. R. (Autor:in) / Freiman, W. (Autor:in) / Beserman, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 65//66 ; 501

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

501 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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