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    Titel:

    Depth resolution for AES sputter profiles of GaAs/GaInAs strained superlattices

    Beteiligte:

    Morais, J. (Autor:in) / Fazan, T. A. (Autor:in) / Landers, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 72 ; 171

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    171 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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