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X-ray analysis of residual stresses and textures in thin coatings

Schubert, A. / Kaempfe, B. / Auerswald, E.

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Titel:

X-ray analysis of residual stresses and textures in thin coatings

Beteiligte:

Schubert, A. (Autor:in) / Kaempfe, B. (Autor:in) / Auerswald, E. (Autor:in) / Delhez, R. / Mittemeijer, E. J.

Erschienen in:

Second European Powder Diffraction Conference ; 117

MATERIALS SCIENCE FORUM

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

117 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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