Glancing-incidence X-ray analysis of thin films: Fid-Bau Portal

Glancing-incidence X-ray analysis of thin films

De Boer, D. K. G. / Van den Hoogenhof, W. W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Glancing-incidence X-ray analysis of thin films

De Boer, D. K. G. / Van den Hoogenhof, W. W.

Glancing-incidence X-ray analysis of thin films

De Boer, D. K. G. / Van den Hoogenhof, W. W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Glancing-incidence X-ray analysis of thin films

Beteiligte:

De Boer, D. K. G. (Autor:in) / Van den Hoogenhof, W. W. (Autor:in) / Delhez, R. / Mittemeijer, E. J.

Erschienen in:

Second European Powder Diffraction Conference ; 231

MATERIALS SCIENCE FORUM

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

231 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

De Boer, D. K. G. / Van den Hoogenhof, W. W. | British Library Online Contents | 1993

Photocatalytic properties of TiO2 thin films obtained by glancing angle deposition

Li, Z. / Zhu, Y. / Zhou, Q. et al. | British Library Online Contents | 2012

Electrical characterization of Ag:TiN thin films produced by glancing angle deposition

Pedrosa, P. / Lopes, C. / Martin, N. et al. | British Library Online Contents | 2014

Nanometer Coatings of Hydroxyapatite Characterized by Glancing-Incidence X- Ray Diffraction

Mello, A. / Mavropoulos, E. / Hong, Z. et al. | British Library Online Contents | 2009

Glancing angle deposition to control microstructure and roughness of chromium thin films

Lintymer, J. / Martin, N. / Chappe, J. M. et al. | British Library Online Contents | 2008

Nach oben