Dielectric relaxation of paired defects in perovskite-type oxides: Fid-Bau Portal

Dielectric relaxation of paired defects in perovskite-type oxides

Nowick, A. S. / Fu, S. Q. / Lee, W.-K. / Lim, B. S.

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Titel:

Dielectric relaxation of paired defects in perovskite-type oxides

Beteiligte:

Nowick, A. S. (Autor:in) / Fu, S. Q. (Autor:in) / Lee, W.-K. (Autor:in) / Lim, B. S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 23 ; 19

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

19 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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