Defect Control in Relaxed, Graded GeSi/Si: Fid-Bau Portal

Defect Control in Relaxed, Graded GeSi/Si

Fitzgerald, E. A. / Xie, Y. H. / Monroe, D. / Watson, G. P.

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Titel:

Defect Control in Relaxed, Graded GeSi/Si

Beteiligte:

Fitzgerald, E. A. (Autor:in) / Xie, Y. H. (Autor:in) / Monroe, D. (Autor:in) / Watson, G. P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 471

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

471 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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