The Use of Piezoelectric Thin Film Sensors for Structural Integrity Monitoring: Fid-Bau Portal

The Use of Piezoelectric Thin Film Sensors for Structural Integrity Monitoring

Chiu, W. K. / Galea, S. C. / Zhang, H. / Jones, R.

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Titel:

The Use of Piezoelectric Thin Film Sensors for Structural Integrity Monitoring

Beteiligte:

Chiu, W. K. (Autor:in) / Galea, S. C. (Autor:in) / Zhang, H. (Autor:in) / Jones, R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF INTELLIGENT MATERIAL SYSTEMS AND STRUCTURES ; 5 ; 683

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

683 pages

ISSN:

1045-389X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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