Photon tunneling from semiconductor surfaces to atomic force microscopy probes: Fid-Bau Portal

Photon tunneling from semiconductor surfaces to atomic force microscopy probes

Fillard, J. P. / Castagne, M. / Prioleau, C. / Baudry, E.

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Titel:

Photon tunneling from semiconductor surfaces to atomic force microscopy probes

Beteiligte:

Fillard, J. P. (Autor:in) / Castagne, M. (Autor:in) / Prioleau, C. (Autor:in) / Baudry, E. (Autor:in) / Fornani, R.

Erschienen in:

2nd International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies ; 493

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 28

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

493 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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