Contrast in positron reemission microscopy due to positron trapping by dislocations: Fid-Bau Portal

Contrast in positron reemission microscopy due to positron trapping by dislocations

Canter, K. F. / Amarendra, G. / Vasumathi, D. / Wesley, S. A.

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Titel:

Contrast in positron reemission microscopy due to positron trapping by dislocations

Beteiligte:

Canter, K. F. (Autor:in) / Amarendra, G. (Autor:in) / Vasumathi, D. (Autor:in) / Wesley, S. A. (Autor:in) / Doyama, M. / Akahane, T. / Fujinami, M.

Erschienen in:

Proceedings of the Sixth International Workshop on Slow-Positron Beam Techniques for Solids and Surfaces ; 339

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 85

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

339 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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