Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy for In Situ, Real-Time Analysis of Growing Films

    Neue Suche nach: Roberts, T. A.
    Neue Suche nach: Gray, K. E.
    Neue Suche nach: Auciello, O.
    Neue Suche nach: Krauss, A. R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy for In Situ, Real-Time Analysis of Growing Films

    Neue Suche nach: Roberts, T. A.
    Neue Suche nach: Gray, K. E.
    Neue Suche nach: Auciello, O.
    Neue Suche nach: Krauss, A. R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy for In Situ, Real-Time Analysis of Growing Films

    Neue Suche nach: Roberts, T. A.
    Neue Suche nach: Gray, K. E.
    Neue Suche nach: Auciello, O.
    Neue Suche nach: Krauss, A. R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy for In Situ, Real-Time Analysis of Growing Films

    Beteiligte:

    Roberts, T. A. (Autor:in) / Gray, K. E. (Autor:in) / Auciello, O. / Krauss, A. R.

    Erschienen in:

    In Situ, Real-Time Characterization of Thin-Film Growth Processes ; 43

    MRS BULLETIN- MATERIALS RESEARCH SOCIETY ; 20

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    43 pages

    ISSN:

    0883-7694

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy: Analysis of GaAs and InGaAs

    Files-Sesler, L. A. / Plumton, D. / Kao, Y.-C. et al. | British Library Online Contents | 1994

    X-Ray Fluorescence and Total External Reflection X-Ray Fluorescence Analysis of Films of Ferroelectric Complex Oxides

    Krasnolutskii, V. P. / Bakirov, A. A. / Poluyanova, G. I. et al. | British Library Online Contents | 1997

    A Monochromatic Approximation in Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis

    Losev, N. F. / Krasnolutskii, V. P. / Losev, V. N. et al. | British Library Online Contents | 1993

    Trace Element Analysis Using Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry

    Prange, A. / Schwenke, H. | British Library Online Contents | 1993

    A fast method for the chemical analysis of clays by total-reflection x-ray fluorescence spectroscopy (TXRF)

    Allegretta, Ignazio / Ciasca, Biancamaria / Pizzigallo, Maria D.R. et al. | Elsevier | 2019

    Nach oben