Correlation between microstructure and gauge factors of thick film resistors: Fid-Bau Portal

Correlation between microstructure and gauge factors of thick film resistors

Hrovat, M. / Drazic, G. / Holc, J. / Belavic, D.

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Titel:

Correlation between microstructure and gauge factors of thick film resistors

Beteiligte:

Hrovat, M. (Autor:in) / Drazic, G. (Autor:in) / Holc, J. (Autor:in) / Belavic, D. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 14 ; 1048

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

1048 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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