The Formation of 90 Interface Dislocations in Strained (001) Semiconducter Heterojunctions: Fid-Bau Portal

The Formation of 90 Interface Dislocations in Strained (001) Semiconducter Heterojunctions

Hall, C. R.

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Titel:

The Formation of 90 Interface Dislocations in Strained (001) Semiconducter Heterojunctions

Beteiligte:

Hall, C. R. (Autor:in)

Erschienen in:

NONDESTRUCTIVE TESTING AND EVALUATION ; 12 ; 315-321

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

1058-9759

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1127

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