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Titel:

Applications of a Thin Film Diffractometer

Beteiligte:

Van der Sluis, P. V. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 289-294

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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