Analysis of Residual Stress Gradients in Thin Films Using SEEMANN-BOHLIN-X-Ray Diffraction: Fid-Bau Portal

Analysis of Residual Stress Gradients in Thin Films Using SEEMANN-BOHLIN-X-Ray Diffraction

Fischer, K. / Oettel, H.

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Titel:

Analysis of Residual Stress Gradients in Thin Films Using SEEMANN-BOHLIN-X-Ray Diffraction

Beteiligte:

Fischer, K. (Autor:in) / Oettel, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 301-306

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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