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Atomic force microscopy of III-V nanostructures in air

Reinhardt, F. / Dwir, B. / Biasiol, G. / Kapon, E.

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Titel:

Atomic force microscopy of III-V nanostructures in air

Beteiligte:

Reinhardt, F. (Autor:in) / Dwir, B. (Autor:in) / Biasiol, G. (Autor:in) / Kapon, E. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 104/105 ; 529-538

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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