Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Nanometer-scale characterization of surface materials by STM light emission spectroscopy

    Neue Suche nach: Uehara, Y.
    Neue Suche nach: Ito, K.
    Neue Suche nach: Ushioda, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Nanometer-scale characterization of surface materials by STM light emission spectroscopy

    Neue Suche nach: Uehara, Y.
    Neue Suche nach: Ito, K.
    Neue Suche nach: Ushioda, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Nanometer-scale characterization of surface materials by STM light emission spectroscopy

    Neue Suche nach: Uehara, Y.
    Neue Suche nach: Ito, K.
    Neue Suche nach: Ushioda, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Nanometer-scale characterization of surface materials by STM light emission spectroscopy

    Beteiligte:

    Uehara, Y. (Autor:in) / Ito, K. (Autor:in) / Ushioda, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 107 ; 247-254

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1996

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Nanometer Scale Materials - Characterization and Fabrication

    Murday, J. S. / Colton, R. J. / Rath, B. B. | British Library Online Contents | 1993

    Characterization of surface nanostructures by STM light emission spectroscopy

    Ushioda, S. | British Library Online Contents | 1997

    Nanometer-scale defect detection using polarized light

    Dahoo, Pierre Richard | UB Braunschweig | 2016

    Nanometer-Scale Characterization Technique for Si Nanoelectric Materials Using Synchrotron Radiation Microdiffraction

    Kimura, S. / Imai, Y. / Sakata, O. et al. | British Library Online Contents | 2011

    Shaping Nanometer-Scale Architecture Through Surface Chemistry

    Saponjic, Z. V. / Dimitrijevic, N. M. / Tiede, D. M. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Nach oben