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Monte Carlo simulation of the EBIC grain boundary contrast in semiconductors

Tabet, N. / Ledra, M.

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Titel:

Monte Carlo simulation of the EBIC grain boundary contrast in semiconductors

Beteiligte:

Tabet, N. (Autor:in) / Ledra, M. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 181-184

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 42

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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