Exoelectron Emission Computerized Topography: Instrumental Implementation and Possibilities for Practical Application: Fid-Bau Portal

Exoelectron Emission Computerized Topography: Instrumental Implementation and Possibilities for Practical Application

Kortov, V. S. / Isakov, V. G. / Slesarev, A. I. / Khrustalev, A. B. / Timofeev, Y. Y. / Kibirev, G. I.

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Titel:

Exoelectron Emission Computerized Topography: Instrumental Implementation and Possibilities for Practical Application

Beteiligte:

Kortov, V. S. (Autor:in) / Isakov, V. G. (Autor:in) / Slesarev, A. I. (Autor:in) / Khrustalev, A. B. (Autor:in) / Timofeev, Y. Y. (Autor:in) / Kibirev, G. I. (Autor:in)

Erschienen in:

RUSSIAN JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING C/C OF DEFEKTOSKOPIIA ; 32 ; 44-51

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

1061-8309

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1127

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