Grain Boundary Analysis in Superplastic SiO~2

Grain Boundary Analysis in Superplastic SiO~2 - Doped TZP

Thavorniti, P. / Ikuhara, Y. / Sakuma, T.

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Titel:

Grain Boundary Analysis in Superplastic SiO~2 - Doped TZP

Beteiligte:

Thavorniti, P. (Autor:in) / Ikuhara, Y. (Autor:in) / Sakuma, T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 367-372

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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