Calibration of an Inductance Thickness Gage with a Built-In Microprocessor: Fid-Bau Portal

Calibration of an Inductance Thickness Gage with a Built-In Microprocessor

Boloznev, V. V. / Galeev, S. G. / Shulakov, V. A. / Chabdarov, A. S.

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Titel:

Calibration of an Inductance Thickness Gage with a Built-In Microprocessor

Beteiligte:

Boloznev, V. V. (Autor:in) / Galeev, S. G. (Autor:in) / Shulakov, V. A. (Autor:in) / Chabdarov, A. S. (Autor:in)

Erschienen in:

INDUSTRIAL LABORATORY C/C OF ZAVODSKAIA LABORATORIIA ; 62 ; 440-442

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0019-8447

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 607.2

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