Structural analysis of ion-implanted chemical-vapor-deposited diamond by transmission electron microscope: Fid-Bau Portal

Structural analysis of ion-implanted chemical-vapor-deposited diamond by transmission electron microscope

Jiang, N. / Deguchi, M. / Wang, C. L. / Won, J. H. / Jeon, H. M. / Mori, A. / Hatta, A. / Kitabatake, M. / Ito, T. / Hirao, T.

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Titel:

Structural analysis of ion-implanted chemical-vapor-deposited diamond by transmission electron microscope

Beteiligte:

Jiang, N. (Autor:in) / Deguchi, M. (Autor:in) / Wang, C. L. (Autor:in) / Won, J. H. (Autor:in) / Jeon, H. M. (Autor:in) / Mori, A. (Autor:in) / Hatta, A. (Autor:in) / Kitabatake, M. (Autor:in) / Ito, T. (Autor:in) / Hirao, T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 113/114 ; 254-258

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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