Scanning tunneling microscopy characterization of metalorganic chemical vapor deposition grown GaN: Fid-Bau Portal

Scanning tunneling microscopy characterization of metalorganic chemical vapor deposition grown GaN

Horn, J. / Pavlidis, D. / Park, Y. / Hartnagel, H. L.

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Titel:

Scanning tunneling microscopy characterization of metalorganic chemical vapor deposition grown GaN

Beteiligte:

Horn, J. (Autor:in) / Pavlidis, D. (Autor:in) / Park, Y. (Autor:in) / Hartnagel, H. L. (Autor:in) / Jantz, W. / Baeumler, M.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 414-418

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 44

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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