Atomic force microscopy studies of two- dimensional epitaxial growth of Bi~2Sr~2~-~xLa~xCuO~6~-~� thin films: Fid-Bau Portal

Atomic force microscopy studies of two- dimensional epitaxial growth of Bi~2Sr~2~-~xLa~xCuO~6~-~ thin films

Zhang, Y. Z. / Yang, H. T. / Li, L. / Yang, D. G. / Tao, H. J. / Zhao, B. R. / Zhao, Z. X.

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Titel:

Atomic force microscopy studies of two- dimensional epitaxial growth of Bi~2Sr~2~-~xLa~xCuO~6~-~ thin films

Beteiligte:

Zhang, Y. Z. (Autor:in) / Yang, H. T. (Autor:in) / Li, L. (Autor:in) / Yang, D. G. (Autor:in) / Tao, H. J. (Autor:in) / Zhao, B. R. (Autor:in) / Zhao, Z. X. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 16 ; 1095-1098

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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