Electrical properties of thick film resistors from noise measurements: Fid-Bau Portal

Electrical properties of thick film resistors from noise measurements

Peled, A. / Kasap, S. O. / Johanson, R. E. / Zloof, Y.

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Titel:

Electrical properties of thick film resistors from noise measurements

Beteiligte:

Peled, A. (Autor:in) / Kasap, S. O. (Autor:in) / Johanson, R. E. (Autor:in) / Zloof, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 16 ; 1184-1186

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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