Micro-Raman and Electron Microscopy Analysis of Cubic GaN Layers on (001) GaAs: Fid-Bau Portal

Micro-Raman and Electron Microscopy Analysis of Cubic GaN Layers on (001) GaAs

Tabata, A. / Enderlein, R. / Lima, A. P. / Leite, J. R. / Lemos, V. / Kaiser, S. / Schikora, D. / Schoettker, B. / Koehler, U. / Lischka, K.

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Titel:

Micro-Raman and Electron Microscopy Analysis of Cubic GaN Layers on (001) GaAs

Beteiligte:

Tabata, A. (Autor:in) / Enderlein, R. (Autor:in) / Lima, A. P. (Autor:in) / Leite, J. R. (Autor:in) / Lemos, V. (Autor:in) / Kaiser, S. (Autor:in) / Schikora, D. (Autor:in) / Schoettker, B. (Autor:in) / Koehler, U. (Autor:in) / Lischka, K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 264/268 ; 1367-1370

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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