Defects Analysis in Strained InAlAs And InGaAs Films Grown on (111)B InP Substrates: Fid-Bau Portal

Defects Analysis in Strained InAlAs And InGaAs Films Grown on (111)B InP Substrates

Becourt, N. / Ferrer, J. C. / Peiro, F. / Cornet, A. / Morante, J. R. / Gorostiza, P. / Halkias, G. / Michelakis, K. / Georgakilas, A.

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Titel:

Defects Analysis in Strained InAlAs And InGaAs Films Grown on (111)B InP Substrates

Beteiligte:

Becourt, N. (Autor:in) / Ferrer, J. C. (Autor:in) / Peiro, F. (Autor:in) / Cornet, A. (Autor:in) / Morante, J. R. (Autor:in) / Gorostiza, P. (Autor:in) / Halkias, G. (Autor:in) / Michelakis, K. (Autor:in) / Georgakilas, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263 ; 1211-1216

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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