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    Titel:

    Defect-related recombination processes in low-dimensional structures of ZnCdSe/ZnSe, CdTe/CdMnTe and GaAs/AlGaAs

    Beteiligte:

    Godlewski, M. (Autor:in) / Hommel, D. (Autor:in) / Wojtowicz, T. (Autor:in) / Karczewski, G. (Autor:in) / Kossut, J. (Autor:in) / Reginski, K. (Autor:in) / Bugajski, M. (Autor:in) / Bergman, J. P. (Autor:in) / Monemar, B. (Autor:in) / Davies, G.

    Erschienen in:

    Defects in Semiconductors ICDS-19 ; 1665-1670

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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