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Thin film scratch testing in two dimensions - Experiments and analysis

De Boer, M. P. / Nelson, J. C. / Gerberich, W. W.

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Titel:

Thin film scratch testing in two dimensions - Experiments and analysis

Beteiligte:

De Boer, M. P. (Autor:in) / Nelson, J. C. (Autor:in) / Gerberich, W. W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 13 ; 1002-1014

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

13 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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