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Meyer, T. / Von Kaenel, H.

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Titel:

Diffusion of interfacial point defects studied by BEEM

Beteiligte:

Meyer, T. (Autor:in) / Von Kaenel, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 123/124 ; 243-248

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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