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Characterization of semiconductor heterostructures and quantum dots by friction force microscopy

Tamayo, J. / Garcia, R.

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Titel:

Characterization of semiconductor heterostructures and quantum dots by friction force microscopy

Beteiligte:

Tamayo, J. (Autor:in) / Garcia, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 123/124 ; 339-342

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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