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    Titel:

    High resolution transmission electron microscopy of Ba~1~-~xK~xBiO~3 superconductor-insulator-superconductor grain boundary tunnel junctions

    Beteiligte:

    Chan, S.-W. (Autor:in) / Kussmaul, A. (Autor:in) / Hellman, E. S. (Autor:in) / Hartford, E. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 13 ; 1774-1779

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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