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Measurement of the niobium/sapphire interface toughness via delamination

Ji, H. / Was, G. S. / Thouless, M. D.

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Titel:

Measurement of the niobium/sapphire interface toughness via delamination

Beteiligte:

Ji, H. (Autor:in) / Was, G. S. (Autor:in) / Thouless, M. D. (Autor:in) / Gerberich, W. W.

Erschienen in:

Nanomechanics and Nanofracture ; 163-172

ENGINEERING FRACTURE MECHANICS ; 61

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0013-7944

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 126

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