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    Titel:

    A Neural-Based Analog IC Parametric Fault Diagnostic System with Discriminant Simulation Sampling

    Beteiligte:

    Wu, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION ; 26 ; 555-566

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0090-3973

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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