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Quantitative wear analysis using atomic force microscopy

Schofer, J. / Santner, E.

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Titel:

Quantitative wear analysis using atomic force microscopy

Beteiligte:

Schofer, J. (Autor:in) / Santner, E. (Autor:in)

Erschienen in:

WEAR -LAUSANNE- ; 222 ; 74-83

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0043-1648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11292

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