An interpretation of SiO~2-induced emission instability in silicon field emitter: Fid-Bau Portal

An interpretation of SiO~2-induced emission instability in silicon field emitter

Huang, Q.-A. / Sin, J. K. O. / Poon, M. C.

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Titel:

An interpretation of SiO~2-induced emission instability in silicon field emitter

Beteiligte:

Huang, Q.-A. (Autor:in) / Sin, J. K. O. (Autor:in) / Poon, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 136 ; 36-40

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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