Nondestructive Characterisation of MOVPE-Grown CdTe and ZnTe Epilayers by Picosecond and Nanosecond "Excite-Probe" Techniques: Fid-Bau Portal

Nondestructive Characterisation of MOVPE-Grown CdTe and ZnTe Epilayers by Picosecond and Nanosecond "Excite-Probe" Techniques

Gaubas, E. / Mizeikis, V. / Bastiene, L. / Jarasiuenas, K. / Lovergine, N. / Mancini, A. M. / Prete, P. / Subacius, L.

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Titel:

Nondestructive Characterisation of MOVPE-Grown CdTe and ZnTe Epilayers by Picosecond and Nanosecond "Excite-Probe" Techniques

Beteiligte:

Gaubas, E. (Autor:in) / Mizeikis, V. (Autor:in) / Bastiene, L. (Autor:in) / Jarasiuenas, K. (Autor:in) / Lovergine, N. (Autor:in) / Mancini, A. M. (Autor:in) / Prete, P. (Autor:in) / Subacius, L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 297/298 ; 111-114

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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