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T-stress of an interface macrocrack induced by near tip subinterface microcracks

Zhao, L.-G. / Chen, Y.-H.

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Titel:

T-stress of an interface macrocrack induced by near tip subinterface microcracks

Beteiligte:

Zhao, L.-G. (Autor:in) / Chen, Y.-H. (Autor:in)

Erschienen in:

INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE ; 90 ; 275-285

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0376-9429

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1126

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