Characterization of TiO"2 nanocrystalline thin film by scanning tunneling microscopy and scanning tunneling spectroscopy: Fid-Bau Portal

Characterization of TiO"2 nanocrystalline thin film by scanning tunneling microscopy and scanning tunneling spectroscopy

Lin, Y. / Lin, R. / Wang, W. / Xiao, X.

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Titel:

Characterization of TiO"2 nanocrystalline thin film by scanning tunneling microscopy and scanning tunneling spectroscopy

Beteiligte:

Lin, Y. (Autor:in) / Lin, R. (Autor:in) / Wang, W. (Autor:in) / Xiao, X. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 143 ; 169-173

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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