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    Titel:

    Characterization of conducting molecular films on silicon: Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, atomic force microscopy and surface photovoltage

    Beteiligte:

    Komolov, A. (Autor:in) / Schaumburg, K. (Autor:in) / Moller, P.J. (Autor:in) / Monakhov, V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 142 ; 591-597

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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