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    Titel:

    Electronic defect states at ultrathin SiO"2/Si interfaces from photoelectron yield spectroscopy

    Beteiligte:

    Miyazaki, S. (Autor:in) / Maruyama, T. (Autor:in) / Kohno, A. (Autor:in) / Hirose, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 2 ; 185-190

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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