Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Scanning Thermal Microscopy

    Neue Suche nach: Majumdar, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Scanning Thermal Microscopy

    Neue Suche nach: Majumdar, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Scanning Thermal Microscopy

    Neue Suche nach: Majumdar, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Scanning Thermal Microscopy

    Beteiligte:

    Majumdar, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ANNUAL REVIEW OF MATERIALS SCIENCE ; 29 ; 505

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    505 pages

    ISSN:

    0084-6600

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Microthermal machining using scanning thermal microscopy

    Fang, T. H. / Chang, W. J. | British Library Online Contents | 2005

    Scanning SQUID Microscopy

    Kirtley, J. R. / Wikswo, J. P. | British Library Online Contents | 1999

    Scanning probe microscopy

    British Library Online Contents | 2006

    Scanning Acoustic Microscopy

    Nelson, T. M. / Smith, R. W. | British Library Online Contents | 2004

    Scanning Tunneling Microscopy

    Behm, R. J. / Hösler, W. | Springer Verlag | 1986

    Nach oben