Microstructural analysis of hard amorphous carbon films deposited with high-energy ion beams: Fid-Bau Portal

Microstructural analysis of hard amorphous carbon films deposited with high-energy ion beams

Brusa, R.S. / Somoza, A. / Huck, H. / Tiengo, N. / Karwasz, G.P. / Zecca, A. / Reinoso, M. / Halac, E.B.

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Titel:

Microstructural analysis of hard amorphous carbon films deposited with high-energy ion beams

Beteiligte:

Brusa, R.S. (Autor:in) / Somoza, A. (Autor:in) / Huck, H. (Autor:in) / Tiengo, N. (Autor:in) / Karwasz, G.P. (Autor:in) / Zecca, A. (Autor:in) / Reinoso, M. (Autor:in) / Halac, E.B. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 150 ; 202-210

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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