The effect of the detector resolution on the Doppler broadening measurements of both valence and core electron-positron annihilation: Fid-Bau Portal

The effect of the detector resolution on the Doppler broadening measurements of both valence and core electron-positron annihilation

Ghosh, V.J. / Nielsen, B. / Kruseman, A.C. / Mijnarends, P.E. / van Veen, A. / Lynn, K.G.

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Titel:

The effect of the detector resolution on the Doppler broadening measurements of both valence and core electron-positron annihilation

Beteiligte:

Ghosh, V.J. (Autor:in) / Nielsen, B. (Autor:in) / Kruseman, A.C. (Autor:in) / Mijnarends, P.E. (Autor:in) / van Veen, A. (Autor:in) / Lynn, K.G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 149 ; 234-237

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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