MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE: Fid-Bau Portal

MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Chen, H. / Liu, D. / Lee, A.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Chen, H. / Liu, D. / Lee, A.

MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Chen, H. / Liu, D. / Lee, A.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Beteiligte:

Chen, H. (Autor:in) / Liu, D. (Autor:in) / Lee, A. (Autor:in)

Erschienen in:

EXPERIMENTAL TECHNIQUES ; 24 ; 31-32

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

2 pages

ISSN:

0732-8818

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Chen, H. / Liu, D. | British Library Online Contents | 2001

Scanning Tunneling Microscope - Atomic Force Microscope

Masuda, H. | British Library Online Contents | 1993

Electrochemistry option for atomic force microscope

British Library Online Contents | 2006

Atomic force microscope probes start multitasking

British Library Online Contents | 2008

A Moire Microscope for Finite Deformation Micro-mechanical Studies

Liou, N.-S. / Prakash, V. | British Library Online Contents | 2000

Nach oben