Luminescence and X-ray diffraction studies of Ge nanocrystals in amorphous silicon oxide: Fid-Bau Portal

Luminescence and X-ray diffraction studies of Ge nanocrystals in amorphous silicon oxide

Ng, V. / Ng, S. P. / Thio, H. H. / Choi, W. K. / Wee, A. T. / Jie, Y. X.

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Titel:

Luminescence and X-ray diffraction studies of Ge nanocrystals in amorphous silicon oxide

Beteiligte:

Ng, V. (Autor:in) / Ng, S. P. (Autor:in) / Thio, H. H. (Autor:in) / Choi, W. K. (Autor:in) / Wee, A. T. (Autor:in) / Jie, Y. X. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 286 ; 161 - 164

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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